Центр коллективного пользования микроскопии и рентгеновской спектроскопии

1. Исследование образца методом сканирующей электронной микроскопии (SEM S-3400N Hitachi Science Systems Ltd)

2. Проведение точечного анализа элементного состава образца (детектор XFlash 4010, Bruker AXS Microanalysis GmbH)